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近红外二区SIM成像系统NIR-MSIM 近红外二区SIM超分辨显微成像系统通过将多焦点结构照明显微镜(MSIM)集成到NIR-II区(1000-1700nm)荧光显微成像技术中,实现了红外二区结构光照明超分辨显微成像NIR-II MSIM,其中在高度散射介质中,在2.5mm的深度处,空间分......
近红外二区SIM超分辨显微成像系统通过将多焦点结构照明显微镜(MSIM)集成到NIR-II区(1000-1700nm)荧光显微成像技术中,实现了红外二区结构光照明超分辨显微成像NIR-II MSIM,其中在高度散射介质中,在2.5mm的深度处,空间分辨率达到近1.5μm。在更长的发射波长下获得的进一步结果显示出优异的性能。NIR-II MSIM是一种强大的成像方法,具有深度穿透能力以及增强的空间分辨率和对比度。
产品特点:
‣ 近红外二区(1000-1700nm)成像;
‣ 多波长光激发:660/785/850/980nm光激发,可以定制其他激发光波长;
‣ 可结合宽场成像技术达到多波段、全景高分辨和局域超分辨成像效果;
‣ 基于空间光调制器技术的多焦点结构光成像技术;
‣ 高分辨率、深层次成像,可在2.5mm深度生物仿体,达到1.5um横向空间分辨率;
‣ 系统配合自主研发的成像软件,可编程控制光激发、荧光发射、图像采集和数据分析等功能;
‣ 多滤光片组合,达到OD>>6.0的发射效果;
‣ 仪器使用环境:室温环境,常规实验室洁净度符合需求,配置气浮光学平台。
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