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蔡司高速扫描电子显微镜M

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更新时间：2023-08-02 08:30:35浏览次数：123次

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产品简介

蔡司开启电子显微镜速度的革新时代借助MultiSEM显微镜，您可以充分运用91条并行电子束的采集速度

详细介绍

蔡司开启电子显微镜速度的革新时代

借助 MultiSEM显微镜，您可以充分运用91条并行电子束的采集速度。现如今，您能够以纳米分辨率对厘米级样品成像。这款出色的扫描电子显

微镜（SEM）专为7x24小时的连续，可靠运行而设计。只需简单设置高性能数据采集流程，MultiSEM便能够独立地自动完成高村度图像采集。

使用成熟的ZEN 成像软件控制 MultiSEM：您可以直观灵活地管理这款高性能扫描电子显微镜的所有功能选项。

以速度和纳米分辨率采集图像

91条电子束同时工作，拥有出色的成像速度。

在几分钟内对1mm2的区域成像，分辨率高达4nm，

借助经优化的二次电子探测器，以低信噪比采集高村度图像。

大型样品的采集和成像

MultiSEM 配备有一个可容纳10cmx10cm大小样品的样品夹。

对整个样品成像并发现所有细节，助力于科研。

自动采集方案可实大面积成像-您将获得精细的纳米图像，且不丢失可见信息。

ZEN 成像软件

使用成熟的ZEN软件简便直观地操控MultiSEM，该软件被应用于所有禁司成像系统

智能化自动调节程序能够帮助您以高分辨率和高村度捕获图像

根据样品的实际情况，快速轻松地创建复杂的自动采集流程

MultiSEM的ZEN 软件可高速进行连续并行成像

开放的API软件接口可提供灵活快速的应用开发

对大体积样品连续切片断层扫描的数据获取

使用ATUMtome 自动切割树脂包埋生物组织，内搜焦多达1000个连续切片。

将切片用胶带固定在硅晶片上并用禁司的光学显微镜成像。使用禁司的ZEN成像软件以及 Shuttle＆Find功能组件对整体成像。再将硅晶片移

MultiSEM电子显微镜下，对样品进行整体预览并利用ZEN软件用户界面规划整个实验。

用图形化的控制中心设置整个实验

切片检测可以识别和标注感兴趣区域，节首大量时间。

关键词：电子显微镜显微镜扫描电子显微镜数据采集光学显微镜

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