行业产品

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陕西博微电通科技有限责任公司


  • 半导体雪崩耐量测试仪

    详细摘要: 可用于各类二极管(Diode)以及可控硅(SCR)的正向浪涌电流(IFSM)试验,包括三极管(Triode)、MOSFTE、IGBT等全控器件的内置二极管的浪涌...

    产品型号:BW-UIS-3500所在地:西安市更新时间:2024-03-20 在线留言

  • 车规级功率器件热循环负载试验台

    详细摘要: BW-TRL2000车规级功率器件热循环负载试验台是一种二极管热循环负载试验系统,广泛应用于车规级半导体器件高温、高湿、高压、满载等功率循环可靠性间歇寿命测试,...

    产品型号:BW-TRL2000所在地:西安市更新时间:2024-03-07 在线留言

  • 半导体高精度自动温度实验系统

    详细摘要: BW-AH-5520半导体高精度自动温度实验系统采用特殊的结构设计,保证待测元器件区域温度高稳定度及均匀度。采用双高精度 RTD 温度传感器进行精密控温及过温保...

    产品型号:BW-AH-5520所在地:西安市更新时间:2024-03-07 在线留言

  • 二极管浪涌测试系统

    详细摘要: 可用于各类二极管(Diode)以及可控硅(SCR)的正向浪涌电流(IFSM)试验,包括三极管(Triode)、MOSFTE、IGBT等全控器件的内置二极管的浪涌...

    产品型号:BW-IFSM/ITSM所在地:西安市更新时间:2024-03-06 在线留言

  • 半导体高温高湿反偏实验系统

    详细摘要: 适用于各种封装类型的二极管、三极管、SCR、MOSFET(支持耗尽型产品)、IGBT 单管、IGBT 模块、IPM 模块、桥堆等进行高温高湿反偏试验试验线路及试...

    产品型号:BW-H3TRB-C16所在地:西安市更新时间:2024-01-10 在线留言

  • 半导体间歇寿命功率循环实验系统

    详细摘要: 适用于各种封装的IGBT、SiiC/GaN、MOSFET、BTJ进行K系数测试、稳态热阻测试及功率循环试验试验线路及试验方法满足 MIL-STD-750 Met...

    产品型号:BW-IOL-X16M所在地:西安市更新时间:2023-12-23 在线留言

  • 半导体高加速温湿度应力试验系统

    详细摘要: 适用于 SIIC/GaN 芯片的各种封装类型的二极管、三极管、SCR、MOSFET、IGBT、IPM、桥堆等半导体器件进行 HAST 试验。符合JESD22-A...

    产品型号:BW-HAST-H4所在地:西安市更新时间:2023-12-23 在线留言

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