X荧光分析仪

【资料简介】

X荧光分析仪型号：CIT-3000SMD(A)

应用领域该仪器是专门为黑色冶金、矿山样品分析行业打造的一款针对性强的分析仪器，对原矿、精矿、尾矿、烧结矿、球团矿、炉渣、生铁、石灰石等许多样品可进行多元素快速检测。 
仪器技术指标(1)测量范围：1-40kev； 
(2)可分析元素范围：Na-U； 
(3)分析含量范围：1ppm-99.99%； 
(4)分辨率：优于127Ev； 
(5)低检出限：Pb≤5ppm； 
(6)工作环境温度：0-40摄氏度； 
(7)工作环境相对湿度：≤80% （不结露） 
(8)测量时间：10-2550s(时间可调） 
(9)输入电源：AC 220V ±10%，50HZ； 
(10)额定功率：300W； 
(11)探测器类型：更的 Superfast SDD 探测器； 
(12)500万像素的CDD头，可有效的实现观察测试区域状况，并拍下物料照片，可作为检测报告的组成部分； 
(13)仪器尺寸：600(W) *570(D) *570(H)mm 
(14)样品腔尺寸：样品腔：300*300*100 mm 
(15)重量：约100Kg