XJ55-314030（优势）激光粒度仪技术参数

【资料简介】

分布仪系统是集光、机、电、计算机为一体的高科技产品，它采用

进口半导体激光器，寿命长，单色性好;*的机械设计与加工工艺和微电子集成电路技术；

高灵敏度的光电池接收系统，全程米氏理论作为基础，结合优异的计算方法。使测试数据更

加，快捷；是目前国内比较经济实用的一款激光粒度分布仪。

二、技术参数 

测试范围：0.1μm～500μm

光 源：半导体激光器(波长635 nm.功率3mw.使用寿命25000小时以上)

测试方式：湿法测试

样品浓度：0.5‰～1%（与样品的比重、颗粒大小、折射率有关）

测试时间：少于1分钟/次，不含样品分散时间

扫描速度：2000次/秒

重复性误差：≦1%

电源：交流220V±10%50Hz或60Hz，功率：80W

微机接口：标准 RS-232串行接口

操作系统：可在Windows所有版本的操作系统下运行 

三、产品特点 

（1）功能*的软件系统

激光粒度分布仪系统是集光、机、电、计算机为一体的高科

技产品,数据处理有的计算机分析系统软件完成，同时由打印机完成测

试报告的输出。 

（2）*的光路一体化技术

优化的反傅立叶光学变换设计,结合*的光路一体化结构，使光路更

加稳定，长期使用，无须调整；*的机械设计与加工工艺，使仪器的结构

更紧凑合理;流线型的设计，美观大方，使用与维护更为方便；有效的屏蔽

与抗干扰技术，使仪器的电气等性能更加稳定 。 

（3）高灵敏大角度光电接收器阵列

*的光电接收器阵列设计，有效提高了仪器的分辨率。主向光电接收器，共有71个光电池,zui大探测角达21.5°；

非均匀交叉排列的侧向光电接收器,共5个光电池，其中，zui大侧向角度达75°。

（4）长久耐用

采用波长635nm,功率3mw半导全激光器,使用寿命在25000个小时以上有效提高了激光粒度分布仪的使用和存放时间。

（5）的H.Golub分布反演算法

HYL系列激光粒度测试系统*采用*的全Mie散射理论作为基础，并采用优良的H.Golub分布反演算法，结合独

特的仪器硬件设计,使您测试的样品无论是单分布的，还是混合的，都能够使测试数据更加、快捷。

（6）输出结果格式灵活

报告单格式的输出格式灵活,可根据使用者的需要,编辑包括累计粒度分布数据与曲线、区间粒度分布数据与直方图

和各种典型粒径值等内容。

（7）符合标准ISO13320-1

为了满足用户对测试结果的准确性及重复性等可追踪性的要求， HYL系

 

列激光粒度分布仪*符合ISO13320-1标准。每台激光粒度仪都严格经

国家标准物质的检验,各项指标*合格后方可投入市场。

标准物质对照表

样品编号

粒度

D10D16D25D50D75 D84D90

GBW(E)120009

标准值(微米)

19.1±1.47

22.8±1.53

27.0±1.80

36.7±1.57

44.5±1.95

48.9±2.73

53.1±3.54

测量值1(微米)

19.19

22.9

27.46

36.95

45.13

48.36

54.55

测量值2(微米)

19.3122.8727.6636.7545.3348.4254.30SB2005

标准值(微米)

3.60±2.1

4.80±1.5

6.80±0.6

9.00±1.2

10.50±2.1

测量值1(微米)

2.543.654.696.799.18

10.45

11.76 

测量值2(微米)

2.65

3.7

4.71

6.81

9.22

10.56

11.80