充满信心地迈步向前
全新 Zetasizer Ultra 是用于执行颗粒与分子粒度、颗粒电荷和颗粒浓度的系统，是整个 Zetasizer 系列中最智能、灵活度的仪器。
这一旗舰型仪器充分利用了 ZS Xplorer 软件的易用性、分析速度和数据可靠性等优势，并且提供了两种的测量功能：多角动态光散射 (MADLS®) 和颗粒浓度，从而帮助您更深入地了解样品。
概述
Zetasizer Ultra 综合了功能大的 DLS 与 ELS 系统，它采用了非侵入背散射 (NIBS®) 和的多角动态光散射 (MADLS) 技术来测量颗粒与分子粒度。NIBS 的多用性和灵敏度可测量广泛的浓度范围，而 MADLS 则能让您在这些关键测量当中更精细地了解样品粒度分布。
MADLS 的扩展能够直接分析颗粒浓度。颗粒浓度的测量无需校准，适合于广泛的材料，无需或只需极少稀释，并且使用快捷，这一切都使其成为一种理想的筛选技术。这是 Zetasizer Ultra 的一项功能，甚至可以运用于以前非常难测量的病毒和 VLP 等样品。
Zetasizer Ultra 还利用 M3-PALS 技术提供了灵敏度的电动电势和电泳迁移率测量。我们具有性价比的一次性折叠毛细管样品池允许使用我们的扩散障碍法在极低样品量的情况下进行测量，并且不会产生直接样品电极接触。此类测量提供的信息可以地指出样品稳定性以及/或者聚集倾向。
增加的恒流模式可在高导电性介质中测量电泳迁移率和电动电势，从而减少由于较高离子浓度下的电极极化而出现的错误。
工作原理
Zetasizer Ultra 在一种紧凑型装置中包含了两种技术，并且拥有一系列选件及附件，以便优化并简化不同样品类型的测量。
动态光散射法(DLS)用于测量粒度及分子大小。DLS 可测量作布郎运动颗粒的扩散情况，并采用斯托克斯-爱因斯坦方程将其转化为颗粒粒度与粒度分布。使用的非侵入式背散射 (NIBS) 技术可在泛的粒度及浓度范围内实现的灵敏度。DLS 是一种灵活性的颗粒测量方法，具有快速、准确、可重复的特点。它只需要少量的样品即可完成分析，并且可做到无损。这种技术不考虑材料因素，因此具有极广泛的适用性。
Zetasizer Ultra 还采用了多角动态光散射法 (MADLS)，可提供分辨率、不受角度影响的粒度分布分析。MADLS 还允许在均质样品类型中对颗粒浓度进行简单且无需校准的测量，这一应用可涵盖广泛材料。
电泳光散射法 (ELS)用于测量电动电势。分子和颗粒在施加的电场作用下做电泳运动，其运动速度与电荷直接相关 使用型激光相干技术 M3-PALS(相位分析光散射法)检测其速率。这样即可计算电泳迁移率，并得出样品的电动电势及电动电势分布。
ELS 的运用一般关系到稳定性和配方应用。不带净电荷的颗粒或分子可能会粘合在一起，可能会是系统遇到的一种困难(例如可能是附聚物的配方)。不带净正极或净负极电荷的颗粒或分子将更好地彼此保持距离，从而形成稳定的系统。包含这些颗粒或分子的配方极易受其电荷态的影响，对 pH 值、添加剂浓度和离子浓度等配方属性的变更可能会影响产品稳定性和储存期。
ZS Xplorer 软件套件
该软件的设计非常简单易用，即使是在复杂方法的快速构建中也同样如此。关于要测量的样品、其条件以及变量的信息在运行开始时输入，并且 ZS Xplorer 将根据这些信息对用于该样品的方法进行智能优化。由深度学习支持的数据质量指导系统可提供关于结果的反馈，并针对如何对数据进行必要的改进提出清晰的建议。
选件
MPT-3 自动滴定仪可帮助研究 pH 值变化的影响。
一系列一次性和可重复使用的样品池可优化测量不同样品体积和浓度，包括新的低量一次性粒度测量样品池套件，由于它可以抑制对流，所以既能测量小到 3uL 的粒度，也能测量 DLS 的上限粒度范围。
技术指标
