产品中心第2页-西安天光测控技术有限公司

当前位置：西安天光测控技术有限公司>>产品展示>>其他品牌

产品分类 品牌分类

  其他品牌

西安天光测控技术有限公司

经营模式：生产厂家

商铺产品：43条

所在地区：陕西西安市

联系人：赵女士（销售经理）

询价 给他留言

半导体器件老化测试筛选系统电子行业专用仪器

详细摘要： *品牌：天光测控半导体器件老化测试筛选系统*型号：ST-PC_X*用途：可测试 Si / SiC / GaN 材料的 IGBTs / DIODEs / MOSF...
产品型号：ST-PC_X所在地：西安市更新时间：2023-09-13 在线留言
IGBT开关特性测试仪电子行业专用仪器

详细摘要：天光测控IGBT开关特性测试仪——型号：供应厂家：天光测控；型号：ST-DP_X（1200V200A）；用途：用于Si/SiC/GaN 材料的 MOSFET&I...
产品型号：ST-DP_X所在地：西安市更新时间：2023-09-13 在线留言
PN结电容测试仪电子行业专用仪器

详细摘要：天光测控PN结电容测试仪测试参数: 二极管、三极管、MOSFET、IGBT等半导体分立器件的栅电阻Rg、输入电容Ciss、输出电容Coss、反馈电容Crss.测...
产品型号：0所在地：西安市更新时间：2023-09-13 在线留言
OCT 1400 光耦参数测试仪

详细摘要：各类三极管型的光电耦合器单机测试仪，源自飞思卡尔 16 位单片机编程；支持1通道，多通道提供适配器支持； 10 档位分档设计；可编程的 DUT 恒流源和电...
产品型号：所在地：咸阳市更新时间：2023-09-13 在线留言
元器件直流参数测试系统

详细摘要：能测 36类“半导体分立器件"“电子元件"诸如 Diode、BJT、MOSFET、IGBT、SCR、光耦、继电器、IC、电流传感器、保护器等；※测试项目包括击穿...
产品型号：所在地：咸阳市更新时间：2023-09-12 在线留言
热阻测试系统

详细摘要：热阻测试系统测试参数：可测试器件稳态热阻Rth（J-C）散热：设备采用水冷散热，用于测试IC、LED、散热器、热管等电子器件的热特性
产品型号：T3Ster所在地：西安市更新时间：2021-11-05 在线留言
瞬热阻测试仪

详细摘要：瞬热阻测试仪ST-Thermal_X &#160; 功率器件热特性测试系统测试 Si / SiC / GaN 材料的 IGBTs / DIODE...
产品型号：ST-Thermal_Zth所在地：西安市更新时间：2021-11-05 在线留言
高温反偏试验台

详细摘要： ST-HTXB_X功率器件环境老化试验台可测试 Si / SiC / GaN 材料的 IGBTs / DIODEs / MOSFETs / BJTs / SCR...
产品型号：ST-HTXB_X所在地：西安市更新时间：2021-10-12 在线留言
稳态热阻测试仪（Rth）

详细摘要：稳态热阻测试仪（Rth）测试参数：可测试 Si / SiC / GaN 材料的 IGBTs / DIODEs / MOSFETs / BJTs / SCRs 等...
产品型号：ST-Thermal_Rth所在地：西安市更新时间：2019-06-12 在线留言
瞬态热阻抗测试仪

详细摘要：瞬态热阻抗测试仪测试参数：可测试 Si / SiC / GaN 材料的 IGBTs / DIODEs / MOSFETs / BJTs / SCRs 等器件的热...
产品型号：ST-Thermal_Zth所在地：西安市更新时间：2019-06-12 在线留言
晶体管测试系统

详细摘要：晶体管测试系统测试参数：可测试 19大类27分类大中小功率的分立器件及模块的静态直流参数（测试范围包括 Si/SiC/GaN 材料的 IGBTs/DIOD...
产品型号：ST-SP 2005所在地：西安市更新时间：2019-06-12 在线留言
稳态热阻测试系统

详细摘要：稳态热阻测试系统测试参数：可测试 Si / SiC / GaN 材料的 IGBTs / DIODEs / MOSFETs / BJTs / SCRs 等器件的热...
产品型号：ST-Thermal_X所在地：西安市更新时间：2019-06-12 在线留言
分钟级功率循环试验台

详细摘要：分钟级功率循环试验台测试范围：Si / SiC / GaN 材料的 IGBTs / DIODEs / MOSFETs / BJTs / SCRs 等器件的分钟级...
产品型号：ST-Thermal_PCmin所在地：西安市更新时间：2019-06-12 在线留言
K曲线测试系统

详细摘要： K曲线测试系统测试参数：可测试 Si / SiC / GaN 材料的 IGBTs / DIODEs / MOSFETs / BJTs / SCRs
产品型号：ST-Thermal_Kcurve所在地：西安市更新时间：2019-06-12 在线留言
热阻（抗）测试系统

详细摘要：热阻（抗）测试系统测试参数：Si / SiC / GaN 材料的 IGBTs / DIODEs / MOSFETs / BJTs / SCRs
产品型号：ST-Thermal_RZth所在地：西安市更新时间：2019-06-12 在线留言
稳态热阻测试仪

详细摘要：稳态热阻测试仪ST-Thermal_X功率器件热特性测试系统可测试 Si / SiC / GaN 材料的 IGBTs / DIODEs / MOSFETs / ...
产品型号：ST-Thermal_X所在地：西安市更新时间：2019-05-17 在线留言
大功率IGBT测试仪

详细摘要： ST-SP2010 功率器件静态参数测试系统用于测试 IGBTs,MOSFETs, Diode,静态直流参数3000V/2000A
产品型号：ST-SP_2010所在地：西安市更新时间：2019-05-17 在线留言
IGBT静态参数测试仪

详细摘要： ST-SP9060 功率器件静态参数测试系统用于测试 IGBTs,MOSFETs, Diode,静态直流参数3000V/2000A
产品型号：ST-SP_9060所在地：西安市更新时间：2019-05-17 在线留言
IGBT开关时间测试

详细摘要： ST-DP3020 功率器件动态参数测试系统用于测试 IGBTs,MOSFETs, Diode,动态交流参数1500V/600A，短路电流2500A
产品型号：ST-DP3020所在地：西安市更新时间：2019-05-17 在线留言
IGBT动态参数测试系统

详细摘要： ST-DP1506 功率器件动态参数测试系统用于测试 IGBTs,MOSFETs, Diode,动态交流参数1500V/600A，短路电流2500A
产品型号：ST-DP1506所在地：西安市更新时间：2019-05-17 在线留言