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苏州德优博测新材料有限公司


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场发射透射电子显微镜(TEM)

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更新时间:2023-03-26 14:48:26浏览次数:384次

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产品简介

仪器照片仪器名称场发射透射电子显微镜仪器型号TecnaiG2F20生产厂家美国FEI公司仪器简介TecnaiG2F20是一个多功能、多用户环境的200kV工具

详细介绍

仪器照片

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仪器名称

场发射透射电子显微镜

仪器型号

Tecnai   G2 F20

生产厂家

美国FEI公司

仪器简介

Tecnai G2   F20是一个多功能、多用户环境的200 kV工具。它以其将各种透射电镜技术(包括TEM、EFTEM、Lorentz透镜、STEM、EDX/EELS频谱成像等)方便灵活地有机组合,   形成强大的分析功能 。

技术参数

加速电压:200 kV                   放大倍数:小于105万倍

点分辨率:0.24 nm                   线分辨率:0.14 nm

STEM (HAADF)分辨率:0.19 nm     电子束能量色散:<0.7   eV

束流:>100 nA                  1 nm束斑束流:>0.5 nA

样品倾斜角:-40°~+40°         能量分辨率:~130   eV (Mn K线)

EDAX能谱仪 (EDS):5B~92U

设备功能

主要用于无机材料微结构与微区组成的分析和研究,仪器的功能包括:

1、电子衍射:选区衍射、微束衍射、会聚束衍射

2、成像:衍衬像(明、暗场像)、高分辨像   (HREM)、扫描透射像

3、微区成分:EELS和EDS能谱的点、线和面分析

4、微区化学:EELS的元素价态、化学键、配位结构和电子结构分析

检测案例一(高分辨)

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检测案例二

(Mapping)

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检测案例三

(衍射)

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送样要求

建议提供文献图片或者以前做过的图片,如果没有,检测要求需详细填写。样品可提供20张左右图片:即筛选出三个比较好的区域,每个区域提供3-4张不同放大倍数满足测试要求的图片,对于找不到符合测试要求的区域的样品,我们将会多拍一些区域以证明样品的真实情况!寄送样品质量大于20 mg。


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