详细摘要： 原生多晶型号测试仪是一款半导体材料型号测试仪器，具有大量程测试范围的特点，尤其适用于西门子法原生硅料生产企业的高阻硅料（含硅芯、检磷棒、检硼棒等）以及各种低阻硅...
产品型号：HS-PSTT所在地：北京市更新时间：2022-10-27 在线留言污水处理设备 污泥处理设备 水处理过滤器 软化水设备/除盐设备 纯净水设备 消毒设备|加药设备 供水/储水/集水/排水/辅助 水处理膜 过滤器滤芯 水处理滤料 水处理剂 水处理填料 其它水处理设备
北京合能阳光新能源技术有限公司
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详细摘要： 原生多晶型号测试仪是一款半导体材料型号测试仪器，具有大量程测试范围的特点，尤其适用于西门子法原生硅料生产企业的高阻硅料（含硅芯、检磷棒、检硼棒等）以及各种低阻硅...
产品型号：HS-PSTT所在地：北京市更新时间：2022-10-27 在线留言
详细摘要： HS-Phys-IRis晶圆红外检测系统专门用于包括硅材料等半导体晶圆及晶环生产过程中发现晶圆内部的机械隐裂等肉眼无法观测的内部缺陷，其检测直径可达420mm。
产品型号：HS-Phys-IRis所在地：北京市更新时间：2022-10-27 在线留言
详细摘要： HS-NIR-SiRod单晶硅芯长棒红外探伤测试仪是专门用于硅芯硅棒生产中的硅棒硅芯内部的的裂缝、杂质、黑点、阴影、微晶等缺陷探伤的仪器，可大幅提高硅芯生产过程...
产品型号：HS-NIR-SiRod所在地：北京市更新时间：2022-10-27 在线留言
详细摘要： HS-phys-SimPLe半导体晶片内部缺陷检测系统是专门用于包括单晶硅、碳化硅、蓝宝石等半导体晶片及晶环生产过程中以的分辨率探测晶片和晶环的内部滑移线、内部...
产品型号：HS-phys-SimPLe所在地：北京市更新时间：2022-10-27 在线留言
详细摘要： 合能阳光的金属四探头电阻率方阻测试仪（ HS-MPRT-5）是用来测量硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻的小型仪器.本仪...
产品型号：所在地：北京市更新时间：2022-08-03 在线留言
详细摘要： 属四探头电阻率方阻测试仪(HS-MPRT4）是用来测量半导体材料（主要是硅单晶、锗单晶、硅片）电阻率，以及扩散层、外延层、ITO导电薄膜、导电橡胶方块电阻的测量...
产品型号：所在地：北京市更新时间：2022-08-03 在线留言
详细摘要： 产品介绍: 我公司销售的PVE300是基于Bentham公司专业的技术及25年的行业经验，PVE300能够快速并准确的给出分析数据，是经过市场检验的被广泛应用的...
产品型号：所在地：北京市更新时间：2022-08-03 在线留言
详细摘要： 原生多晶电阻率测试仪(HS-POSRT)，是一款电阻率测试仪器，具有电阻率大量程及超大量程测量的特点，实现了电阻率从0.0001欧姆.厘米到几万欧姆.厘米（可扩...
产品型号：所在地：北京市更新时间：2022-08-03 在线留言
详细摘要： 手动无接触硅片测试仪(HS-NCS-300型)可以测量硅片厚度、总厚度变化 TTV 、弯曲度，该仪器适用于 Si ， GaAs ， InP ， Ge 等几乎所有...
产品型号：所在地：北京市更新时间：2022-08-03 在线留言
详细摘要： 合能阳光无接触少子寿命测试仪(HS-MWR-SIM)，是一款功能强大的，能够对单晶硅棒、多晶硅块及硅片提供快速、无接触、无损伤单点少子寿命测试，其通过微波光电衰...
产品型号：HS-MWR-SIM所在地：北京市更新时间：2022-08-03 在线留言
详细摘要： 无接触式电阻率型号测试仪TRM-100是基于涡流（Eddy Current）测试技术，能够对硅料、硅棒、硅锭及硅片进行无接触、无损伤的体电阻率测试。
产品型号：所在地：北京市更新时间：2022-08-03 在线留言
详细摘要： 多角度激光椭偏仪(PH-LE型)专门针对晶硅太阳能电池绒面上的减反膜测量，能够测量薄膜厚度及其光学常数，使用632.8nm波长氦氖激光器，具有*的精确度和准确度...
产品型号：所在地：北京市更新时间：2022-08-02 在线留言
详细摘要： ■ 镓为IIIA族元素，原子量为69.72，英文名称为Gallium,简称Ga。质软，淡蓝色光泽。熔点29.78℃。沸点2403℃。具有无毒、不挥发、不燃、不爆...
产品型号：所在地：北京市更新时间：2022-07-14 在线留言
详细摘要： 合能阳光无接触少子寿命扫描仪(HS-MWR-2S3)功能强大，能够对单晶硅棒、多晶硅块及硅片提供快速、无接触、无损伤、高分辨率的多功能扫描测试，其通过微波光电衰...
产品型号：HS-MWR-2S3）所在地：北京市更新时间：2022-07-12 在线留言
详细摘要： 硅片表面线痕深度测试仪(HS-SRT-301)可用于测试硅片的表面线痕深度，具有便于携带、触摸屏便捷操作、液晶显示、节能等优点，同时内置打印机和充电电池，所有设...
产品型号：所在地：北京市更新时间：2022-07-11 在线留言
详细摘要： 合测试仪 - HS-PSRT电阻率型号综合测试仪是运用四探针测量原理的多功能综合测试装置，它可以测量片状、块状半导体材料的径向和轴向电阻率，适用于半导体及太阳能...
产品型号：所在地：北京市更新时间：2022-07-11 在线留言您感兴趣的产品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
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