SE-PV系列是针对光伏电池片特性专门设计的全光谱椭偏仪，基于旋转补偿器调制技术，一次性获取Psi/Delta、N/C/S等偏振信号，能实现光伏行业中绒面和非绒面样品的薄膜膜厚、光学常数的快速表征。
面议污水处理设备 污泥处理设备 水处理过滤器 软化水设备/除盐设备 纯净水设备 消毒设备|加药设备 供水/储水/集水/排水/辅助 水处理膜 过滤器滤芯 水处理滤料 水处理剂 水处理填料
武汉颐光科技有限公司
武汉颐光科技有限公司
Mapping系列光谱椭偏仪是全自动高精度Mapping绘制化测量光谱椭偏仪，采用行业前沿创新技术，配置全自动Mapping测量模块。通过椭偏参数、 透射/反射率等参数的测量，快速实现薄膜全基片膜厚以及光学参数自定义绘制化测量表征分析。
一、概述
SE-Mapping 光谱椭偏仪是一款可定制化Mapping绘制化测量光谱椭偏仪，采用行业前沿创新技术，配置全自动Mapping测量模块，通过椭偏参数、 透射/反射率等参数的测量，快速实现薄膜全基片膜厚以及光学参数自定义绘制化测量表征分析。
■ 全基片椭偏绘制化测量解决方案；
■ 支持产品设计以及功能模块定制化，一键绘制测量；
■ 配置Mapping模块，全基片自定义多点定位测量能力；
■ 丰富的数据库和几何结构模型库，保证强大数据分析能力
二、产品特点
■ 采用氘灯和卤素灯复合光源，光谱覆盖紫外到近红外范围 (193-2500nm)；
■ 高精度旋转补偿器调制、PCRSA配置，实现Psi/Delta光谱数据高速采集；
■ 具备全基片自定义多点自动定位测量能力，提供全面膜厚检测分析报告；
■ 数百种材料数据库、多种算法模型库，涵盖了目前绝大部分的光电材料；
三、产品应用
广泛应用OLED，LED，光伏，集成电路等工业应用中,实现大尺寸全基片膜厚、光学常数以及膜厚分布快速测量与表征。
建议配件
|
|
| 真空泵 | 透射吸附组件 |
技术规格
您感兴趣的产品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
环保在线 设计制作，未经允许翻录必究 .
请输入账号
请输入密码
请输验证码
