适用于量程范围内的硅片等各种材料的厚度精确测量。
特征
液晶显示
接触式测量
手动测量模式
数据实时显示
具有输出接口,可选配适配器实现232接口功能
技术指标
测量范围:0~12.7mm
分辨率:0.001mm
外形尺寸:300mm(L)×200(B)×340mm(H)
净重:20kg
标准
GB/T 1876-2007
典型用户
江苏,浙江,广东,湖南,内蒙古,河南,河北,韩国,日本,新加坡等地的国内外客户。
当前位置:北京合能阳光新能源技术有限公司>>硅片检测>>电阻率>> 硅片测厚仪(HS-WTT)
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