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MWR-2S-3I无接触少子寿命及红外探伤综合测试仪

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更新时间:2018-05-01 13:39:38浏览次数:282次

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MWR-2S-3I是一款功能异常强大的无接触少子寿命及红外探伤综合测试仪,能够对单晶硅棒、多晶硅块及硅片提供快速、无接触、无损伤、高分辨率的多功能扫描测试。一方面,其通过微波光电衰退特性原理来测量非平衡载流子寿命的;另一方面,通过近红外对硅材料的光学特性,探测缺陷。并且单晶硅棒、多晶硅块无须进行特殊处理。此设备是太阳能电池硅片企业、多晶铸锭企业、拉晶企业*的测量仪器。

 

产品介绍:
MWR-2S-3I是一款功能异常强大的无接触少子寿命及红外探伤综合测试仪,能够对单晶硅棒、多晶硅块及硅片提供快速、无接触、无损伤、高分辨率的多功能扫描测试。一方面,其通过微波光电衰退特性原理来测量非平衡载流子寿命的;另一方面,通过近红外对硅材料的光学特性,探测缺陷。并且单晶硅棒、多晶硅块无须进行特殊处理。此设备是太阳能电池硅片企业、多晶铸锭企业、拉晶企业*的测量仪器。
 
产品特点
系统功能强大,少子寿命及缺陷同时测量
无接触和无损伤测量
自动测量,具有传送系统,可进行连续测量
快速测量,测试扫描速度达到2000mm/min
测试范围广:包括硅块、硅棒、硅片等
应用于硅棒硅块、硅片的进厂、出厂检查,生产工艺过程中重金属沾污和缺陷的监控等
性价比高,*程度地降低了企业的测试成本
可以在线实时对产品监控
 
*工作条件
温度:18-26℃
湿度:10%~80%
大气压:750±30毫米汞柱
 
技术指标
主机尺寸:63cm * 36cm *59cm
测试尺寸:190mm*190mm*500mm
测试扫描速度:2000mm/min
电阻率范围:>0.5Ω.cm
硅棒硅块扫描间距:≥1mm
仪器测试精度:±3.5%,信号处理偏差≤2%
少子寿命测试范围:0.1μs-30ms
少子检测激光波长:975nm,测试功率范围:50-500mw
红外波长:2300nm,测试功率范围:50mw
红外探伤可分辨zui小尺寸:0.1mm
微波工作频率:10GHz±0.5
微波测试单元功率:0.01W±10%
电源:~220V 50Hz    功耗<160W
主机重量:32KG
 
典型客户
德国,瑞士,美国,日本,俄罗斯及国内河北,江西,江苏,浙江,广西,上海,辽宁等地拉晶铸锭客户。

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