- 240 kV / 320 W 开放式微焦点X射线管
- 单极240kV射线管，细部分辨率可达1um
- 可选配高功率180kVnm焦点射线源
- 高达10倍的增加的灯丝寿命，通过长寿命的灯丝（可选配）确保了长期稳定性和系统效率
- 通过菱形|窗口（可选配）以同样的高图像质量水平进行快达2倍的数据采集
- 通过高动态温度稳定的GE DXR数字探测器获取的30 FPS（帧每秒）（可选配）的快速CT采集和清晰的影像
- 基于花岗岩基座的6轴高精度、高稳定度机械系统
- 可选8轴运动检测平台
- 高对比度平板探测器，1024x1024像素
- 可针对较大型工具进行缺陷识别和可再现的3D量测
- 2D检测与3D CT 模式方便切换
附件：
控制器
使用控制器控制系统的硬盘体组件，配备了双/四核心的处理技术
重建/视觉化工作模式
根据目前Intel® Xeon®处理器技术（多CPU和多核心设计）的工作站
2倍重建集群-velo|CT-2x
使用基于高瑞图形处理器技术的两个处理单元进行工作站库的加速重建
| 设备规格 | 内容说明 |
|---|---|
| 管电压 | 240 kV |
| 功率 | 320 W |
| 细部检测能力 | 高达1μm |
| 最小焦物距 | 4.5 mm |
| 3D像素的分辨率 (取决于对象的大小) | < 2µm |
| 几何倍率(2D) | 1.25 倍到 333 倍 |
| 几何放大倍率(3D) | 1.25 倍到 200 倍 |
| 目标尺寸(高 x 直径) | 600 mm x 500 mm / 23.6" x 19.7" |
| 样品重量 | 50kg / 110.23lb |
| 操作 | 提供长时间且稳定与高精密的花岗岩基底的7轴操作器 |
| 2D X射线成像 | 可以 |
| 3D CT扫描 | 可以 |
| *的表面提取 | 可以(选配) |
| CAD 比较+ 尺寸测量 | 可以(选配) |
| 系统尺寸 | 3900 mm x 2400 mm x 2700 mm / 154” x 94.5” x 106” |
| 系统重量 | 大约 16.5 吨 / 36376 磅 |
| 辐射安全 | - 全防辐射安全机柜，依据德国ROV和美国性能标准21 CFR 1020.40 (机柜X-Ray系统)。 - 辐射泄漏率：从机台壁的10cm处测量 <1.0µSv/h。 |
- 3D测量工具软件不仅可进行几何测量，具有精度，再现性和亲和力，而且使用上简单方便
- 在少于1小时之内自动生成检测记录是可能的
- 使用的软件模块以确保的CT质量且便于使用，例如
- 通过点击并测量|CT 用 datos|x 2.0进行高精度可重现的3D测量: 全自动化执行的CT扫描，重建和分析过程
- 通过 VELO | CT在几秒钟或几分钟内（取决于体积大小）完成更快的3D CT重建
复杂的涡轮叶片铸件可利用3D精确地分析故障部位
玻璃纤维和矿物填料（紫色）的凝聚体的方位和分布都清晰可见。 纤维宽度大约为 10 µm
对气缸盖3个装置CAD 差异 分析和测量
铸铝活塞的CT图像
▶ 地质/生物科学
高分辨率计算机断层扫描(micro-ct 与nano-ct)广泛用于检测地质样品，例如:新资源的探索。高分辨率CT-系统以微观高解析提供岩石样品、粘合剂、胶合剂和空洞的3D图像，并帮助分辨特定的样品特征，如含油岩石中空洞的大小和位置。
▶ 塑料工程
在塑料工程中，高分辨率的X射线技术用于通过探测缩孔、水泡、焊接线和裂缝并分析缺陷来优化铸造和喷涂过程。 X射线计算器断层扫描(micro ct 与nano ct)提供具有以下物体特点的3D图像：如晶粒流模式和填料分布，以及低对比度缺陷。
玻璃纤维增强塑料样品的nano-CT ®： 玻璃纤维和矿物填料（紫色）的凝聚体的排列和分布都清晰可见。纤维大约有10um宽。
▶ 测量
用X射线进行的3D测量是的可对复杂物体内部进行无损测量的技术。通过与传统式触觉坐标测量技术的比较，对一个物体进行计算机断层扫描的同时可获得所有的曲点: 包括所有无法使用其他测量方法无损害进入的隐蔽形体，如底切。 v/tome/xs 有一个特殊的3D测量包，其中包含空间测量所需的所有工具，从校准仪器到表面提取模块，具有可能的精度，可再现且具亲和力. 除了2D壁厚测量外，CT数据可以快速方便地与CAD数据进行比较，例如，分析完成组件，以确保其符合所有的规定尺寸。
对气缸盖3个装置的CAD差异分析和测量。
▶ 传感器学和电气工程
在传感器和电子组件的检测中，高分辨率X射线技术主要用于检测和评估接触点、接头、箱子、绝缘子和装配情况。甚至可以检测半导体组件和电子设备（焊点），而无需拆卸设备。
Nano-CT ®显示CSP组件的焊接接点。焊接接点的3D形状，约直径400um，空隙间隙分布清晰可见。焊接接点内部，不同的共晶焊料相是可见的。
▶ 材料科学
高分辨率计算机断层扫描(micro-ct 与nano-ct)用于检测材料、复合材料、烧结材料和陶瓷，但也可应用于地质或生物样品进行分析。材料分配、空隙率和裂缝在微观上是3D可视的。
玻璃纤维复合材料的nano-CT ®：纤维毡（蓝色）的纤维方向和基质树脂（橙色）会清楚显示出来。图片右边: 树脂内的空洞会以暗体出现。左边： 树脂已淡出，以更好地使纤维毡可视化。毡内的单跟纤维是可见的。
▶ 3D计算机断层扫描
工业X射线3D计算机断层扫描(micro-ct 与nano-ct) 的标准应用是对金属和塑料铸件的检测及3D测量。phoenix| X射线的高分辨率X射线技术开辟了在众多领域的新应用，如传感器技术、电子、材料科学以及许多其他自然科学。
SMD传感器的nanoCT®, 尺寸0805 (2.0 mmx 1.2 mm). 三维X射线图像显示了后盖后的内部线圈。在任何常规的X光片中，图层面板都是重迭的，但nanoCT ®成功地将对象逐层显示。
高分辨率计算机断层扫描(micro-ct 与nano-ct)广泛用于检测地质样品，例如:新资源的探索。高分辨率CT-系统以微观高解析提供岩石样品、粘合剂、胶合剂和空洞的3D图像，并帮助分辨特定的样品特征，如含油岩石中空洞的大小和位置。
▶ 塑料工程
在塑料工程中，高分辨率的X射线技术用于通过探测缩孔、水泡、焊接线和裂缝并分析缺陷来优化铸造和喷涂过程。 X射线计算器断层扫描(micro ct 与nano ct)提供具有以下物体特点的3D图像：如晶粒流模式和填料分布，以及低对比度缺陷。
玻璃纤维增强塑料样品的nano-CT ®： 玻璃纤维和矿物填料（紫色）的凝聚体的排列和分布都清晰可见。纤维大约有10um宽。
▶ 测量
用X射线进行的3D测量是的可对复杂物体内部进行无损测量的技术。通过与传统式触觉坐标测量技术的比较，对一个物体进行计算机断层扫描的同时可获得所有的曲点: 包括所有无法使用其他测量方法无损害进入的隐蔽形体，如底切。 v/tome/xs 有一个特殊的3D测量包，其中包含空间测量所需的所有工具，从校准仪器到表面提取模块，具有可能的精度，可再现且具亲和力. 除了2D壁厚测量外，CT数据可以快速方便地与CAD数据进行比较，例如，分析完成组件，以确保其符合所有的规定尺寸。
对气缸盖3个装置的CAD差异分析和测量。
▶ 传感器学和电气工程
在传感器和电子组件的检测中，高分辨率X射线技术主要用于检测和评估接触点、接头、箱子、绝缘子和装配情况。甚至可以检测半导体组件和电子设备（焊点），而无需拆卸设备。
Nano-CT ®显示CSP组件的焊接接点。焊接接点的3D形状，约直径400um，空隙间隙分布清晰可见。焊接接点内部，不同的共晶焊料相是可见的。
▶ 材料科学
高分辨率计算机断层扫描(micro-ct 与nano-ct)用于检测材料、复合材料、烧结材料和陶瓷，但也可应用于地质或生物样品进行分析。材料分配、空隙率和裂缝在微观上是3D可视的。
玻璃纤维复合材料的nano-CT ®：纤维毡（蓝色）的纤维方向和基质树脂（橙色）会清楚显示出来。图片右边: 树脂内的空洞会以暗体出现。左边： 树脂已淡出，以更好地使纤维毡可视化。毡内的单跟纤维是可见的。
▶ 3D计算机断层扫描
工业X射线3D计算机断层扫描(micro-ct 与nano-ct) 的标准应用是对金属和塑料铸件的检测及3D测量。phoenix| X射线的高分辨率X射线技术开辟了在众多领域的新应用，如传感器技术、电子、材料科学以及许多其他自然科学。
SMD传感器的nanoCT®, 尺寸0805 (2.0 mmx 1.2 mm). 三维X射线图像显示了后盖后的内部线圈。在任何常规的X光片中，图层面板都是重迭的，但nanoCT ®成功地将对象逐层显示。
