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日本ae-mic具有微调功能超高阻计AE-1644E适用于 安装10kΩ〜1TΩ芯片，Melf，轴向型超高电阻机器分选机，激光和切割机修整机
日本ae-mic高精度直流电阻检查器AE-182A适合 D，F，G，J，K类RDC测量，电阻分选机/绕线机，电感器，热敏电阻
日本ae-mic用于油漆输送机轴向阻力电阻检测AE-172D，F，G，J，K级涂漆输送机，Melf和轴向电阻器的理想选择
日本ae-mic高精度数字电阻检查器AE-163L 超小尺寸芯片（0 2 0 1，0 3 0 1 5 ...）兼容精密级电阻器！B，C，D，F，G，J，K级，...
日本ae-mic用于超高精度电阻器检查AE-163D适用于 B，C，D，F，G，J，K类，切屑，熔体，径向和轴向电阻器的分拣和编带机
日本ae-mic高精度数字电阻检查器AE-162LD，F，G，J，K类，兼容超小型芯片（0201、03015），包带机
日本ae-mic用于超高速芯片电阻检测AE-162DD，F，G，J，K类，切屑，熔体，径向和轴向电阻器的分拣机和编带机的理想选择
日本napson用于探头电阻/薄层电阻测量仪Napson 4探针测量系统使用了盒式磁带（*为Jandel的原始类型）。我们还为其他公司的设备提供6针连接器类型和...
日本napson超高电阻范围兼容的薄层电阻检测CRN-100超高电阻范围：以非接触方式测量10E + 9至10E + 15Ω/□平面多点测量功能
日本napson非接触涡流法薄层电阻检测NC-80MAP使用多种类型的非接触式探头的电阻测量仪器，范围广泛（要安装的探头数量和探头类型可根据要求更改）
日本napson薄层电阻4探针法测量仪RT70V系列它是测量仪（RT-70V）和测量台的组合测量仪。
日本napson非接触型超低电阻范围的电阻测量PVE-80非接触型（脉冲电压激励法）超低电阻范围的电阻测量系统由于是使用脉冲电压激励法作为测量原理的非接触电阻测...
日本napson手持式薄层电阻测量仪DUORESDUORES手持式薄层电阻测量仪（2个探头更换用[接触式和非破坏性测量探头]）
日本napson非接触涡流法薄层电阻测量装置NC-10（NC-20）可通过个人计算机轻松操作的非接触（涡流法）电阻/薄层电阻测量装置
日本napson手持式探针的电阻测量仪EC-80P只需触摸手持式探头即可测量电阻。在电阻/薄层电阻测量模式之间轻松切换使用JOG拨盘轻松设置测量条件
日本napson非接触式涡流法电阻测量仪EC-80简单的测量仪器，只需将样品插入探针之间即可进行测量在电阻/薄层电阻测量模式之间轻松切换
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