微型高低温箱，IC用高 低温测试箱 返回列表页

JS-GDW002高低温试验箱

微型高低温箱，IC用高 低温测试箱特点及用途

    微型高低温试验箱适用于IC,PCB板、晶圆，可控硅，半导体，电阻、电容、电工、电子产品、家用电器、汽摩配件、化工涂料、各种电子元器件及其他相关产品零部件在高温、低温环境下贮存、运输、使用时的适应性试验，考核其各项性能指标。可单独做高温、低温；也可用于高温、低温的循环试验。

《GB/T 10589-2008 低温试验箱技术条件》

《GB/T 10592-2008 高低温试验箱技术条件》

《GB/T 2421/2/3/4-2008 电工电子产品环境试验》

《GJB 150A-2009 军装备实验室环境试验方法》

《GJB 360B-2009 电子及电气元件试验方法》

《JJF 1101-2003 环境试验设备温度、湿度校准规范》

《GB/T 5170.2-2008 电工电子产品环境试验设备检验方法 温度试验设备》

微型高低温箱，IC用高 低温测试箱主要技术参数：

1、温度范围： -75、-40℃~150℃；

2、温度波动度：≤±0.5℃；

3、温度均匀度：≤±2℃ ；

4、内腔尺寸（W×H×D)：300×300×225 （mm）；

5、外形尺寸（W×H×D)：460×910×785 （mm）；

6、电源： 220V 50Hz 2.5KW。